日本 JIMA 日本检查机器工业会 RT CT-01B 微焦点X射线CT专用分辨率测试卡
2026-02-05 16:55:04
admin
日本 JIMA 日本检查机器工业会 RT CT-01B 微焦点X射线CT专用分辨率测试卡
核心技术规格
外形与结构
基座：φ2×40 mm（聚碳酸酯）
硅芯片：5×5×0.2 mm（Si）
吸收体：金（Au），厚度≥4 μm，带保护层
线 / 间距（L/S）与图案
规格：5 组 T 型图案，3、4、5、6、7 μm
每组：3 线 2 间距，垂直 / 水平方向
精度公差：±10%（3–7 μm）
工作温度：10°C～70°C
包装：专用防震盒，附原厂检测报告